Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.
Предоплата всего
Подписываем
Утверждено на заседании кафедры нанотехнологийй и инженерной физики
«11» ноября 2012 г. (протокол № 4)
Зав. кафедрой __________________
Вопросы для зачёта по электронной микроскопии
Специальность 210600.62 Нанотехнология
Степень (квалификация) – бакалавр техники и технологии
Форма обучения очная курс 4 семестр 7
30. Яркость электронного пучка термокатода. Длина когерентности электронного пучка. Критический размер области эмиссии электронов.
31. Электромагнитные линзы (схема, структура). Требования к полюсным наконечникам.
32. Траектории электронов в ЭМ-линзах. Эффект закручивания.
33. Управление током в конденсорной линзе
34. Измерение тока цилиндром Фарадея
35. Сферическая аберрация ЭМ-линз. Методы её исправления. Коэфф. сфер. аберрации
36. Хроматическая аберрация ЭМ-линз. Методы её исправления. Коэфф. хром. аберрации
37. Дифракционная аберрация и её связь с углом обзора апертуры линзы и энергией электронов
38. Совокупное влияние аберраций и выбор оптимального угла обзора апертуры линзы
39. Астигматизм. Принцип работы стигматоров
40. Вакуумная система электронных микроскопов. Характеристики дифференциальной вакуумной откачки
41. Форвакуумный насос. Роторно-пластинчатый, жидкостно-кольцевой насос
42. Турбомолекулярный и диффузионный насосы. Преимущества и недостатки
43. Ионно-сорбционные вакуумные насосы. Роль электрического поля и паров Ti
44. Условное деление вакуума различной глубины и его использование в рабочей камере, электронной колонне и электронной пушке
45. Держатели образцов (гониометры) и их виды
46. Система регистрации изображения в обычном и сканирующем режимах
47. Растровая электронная микроскопия. Характеристики низковакуумной модели JSM-6610LV (JEOL)
48. Типичные задачи и характеристики РЭМ
49. Теоретический диаметр пучка
50. Основные части РЭМ и его функциональная схема
51. Система управления и возможности управления образцом в JSM-6610LV
52. Типы объектных линз (классическая и иммерсионная) и их особенности. Отличия в работе оптического и электронного (растрового) микроскопов
53. Разрешение РЭМ. Ток зонда в зависимости от диаметра зонда и ускоряющего напряжения для различных РЭМ. Оптимальные области работы РЭМ
54. Глубина фокуса. Изменение глубины фокуса с изменением размера апертуры
55. Классический детектор Эверхарта-Торнли. Схема, режимы и принципы работы, преимущества и недостатки
56. Модифицирорванный детектор Эверхарта-Торнли, полупроводниковые детекторы « in lense»
57. Полупроводниковые детекторы вторичных электронов. Преимущества
58. Детекторы химического (элементного) контраста: класс. твёрдотельные полупроводниковые детекторы, детекторы Робинсона
59. Полупроводниковый детектор обратнорассеянных (отраженных) электронов. Осуществление топографического и химического контраста на детекторе обратнорассеянных (отраженных) электронов
60. Виды контраста в РЭМ. Режим регистрации истинно вторичных электронов
61. Виды контраста в РЭМ. Режим регистрации обратноотражённых электронов
62. Приёмы борьбы с зарядом образца
63. Детектор дифракции отражённых электронов. Преобразование Хуга
64. Энергодисперсионный анализ характеристического рентгеновского излучения
65. Катодолюминесценция
66. Какова область применения просвечивающей электронной микроскопии?
67. Каковы способы улучшения разрешения ПЭМ?
68. В чем отличие режимов работы ПЭМ при формировании светлопольного, темнопольного изображений?
69. Как получают картины дифракции электронов?
70. В чем отличие между амплитудным и фазовым контрастом? Какова их информативность?
71. Для каких целей применяют моделирование изображений многослоевым методом?
72. Какие тест-объекты применяются для калибровки просвечивающего электронного микроскопа?
73. Какова область применения методов электронной дифракции?
74. Что такое «сфера Эвальда»? Для чего применяется это понятие?
75. В чем преимущество методов электронной дифракции перед методами рентгеновской дифракции?
76. Что такое «постоянная прибора» для ПЭМ? Для чего применяется эта характеристика?
77. Назовите основные методы пробоподготовки образцов для исследования с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Сравните область применения этих методов.
Лектор Кузько А.Е.