У вас вопросы?
У нас ответы:) SamZan.net

методический комплекс по дисциплине МЕТОДЫ ЭЛЕМЕНТНОГО И СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА для студентов групп Т838 Е.html

Работа добавлена на сайт samzan.net: 2016-01-17

Поможем написать учебную работу

Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.

Предоплата всего

от 25%

Подписываем

договор

Выберите тип работы:

Скидка 25% при заказе до 1.2.2025

учебно-методический комплекс по дисциплине

МЕТОДЫ ЭЛЕМЕНТНОГО И СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

для студентов групп Т8-38, Е8-02

часть 2.

Сценарий проведения лабораторных работ

В 8 семестре студенты должны выполнить следующие лабораторные работы

Наименование лабораторной работы

Цель лабораторной работы

Порядок выполнения лабораторной работы

Определение размеров наночастиц благородных металлов с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Проведение дисперсионного анализа наноразмерных частиц при помощи просвечивающей электронной микроскопии
  1.  Ознакомиться с устройством и принципом работы микроскопа. Включить микроскоп, получить необходимый вакуум, поднять ускоряющее напряжение, получить электронный пучок, провести юстировку микроскопа.
  2.  Загрузить образцы в микроскоп. Получить изображение объекта на экране для наблюдения.
  3.  Получить снимки образца в микроскопе и зарегистрировать. По электронно-микроскопическим изображениям описать формы и структурные особенности наночастиц.
  4.  По увеличенным изображениям определить диаметры наночастиц, составить таблицу, построить графики их распределения по размерам.
  5.  По графику определить средний размер и описать характерные точки кривой распределения.

Определение индексов хиральности углеродных нанотрубок

Определение индексов хиральности углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения
  1.  Получить в микроскопе и зарегистрировать изображения высокого разрешения нанотрубок.
  2.  На фотометре провести фотометрирование изображения нанотрубок и построить их профили.
  3.  Измерить расстояния между минимумами на профиле и определить диаметры нанотрубок.
  4.  На основании результатов измерений диаметров нанотрубок рассчитать индексы хиральности нанотрубок.

Проведение анализа элементного состава образца с помощью анализатора потерь энергии электронов

Приобретение практических навыков по определению элементного состава при помощи анализатора потери энергии электронов
  1.  Выбрать область анализа образца в режиме изображения  и перейти в режим дифракции.
  2.  Запустить режим сканирования анализатора и получить спектр потери энергии электронов.
  3.  Используя пик нулевых потерь энергии электронов откалибровать шкалу энергетических потерь.
  4.  Вычесть фон из спектра и по шкале энергетических потерь определить элементы, соответствующие пикам на спектре.

Методы подготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии

Приобретение практических навыков приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения с помощью ионно-лучевого утонения
  1.  Вырезать диск диаметром 3 мм из предварительно склеенного сандвича из прямоугольников исходного образца при помощи ультразвукового отрезного устройства.
  2.  Утонить образец при помощи шлифования и механической полировки на плоско-параллельном шлифовальном устройстве до толщины 6070 мкм.
  3.  Приклеить образец с помощью воска к держателю ионно-лучевого утонителя. После откачки и получения соответствующего вакуума, включить вращение образца, подать газ, запустить ионные пушки (ускоряющее напряжение – 5 кВ, угол утонения обеих пушек – 10º).
  4.  Наблюдать за процессом ионной обработки на мониторе ПЗС камеры. По мере утонения образца, ускоряющее напряжение и угол утонения уменьшать; в конце обработки ускоряющее напряжение составляет 1.5 кВ, и угол утонения – 3º.
  5.  Остановить процесс обработки при появлении дырки в образце. Вынуть образец из камеры утонителя. Проверить качество образца в микроскопе.

Получение изображения в сканирующем зондовом микроскопе

Изучение основ сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
  1.  Измерение коэффициента преобразования K преобразователя ток-напряжение (ПТН).
  2.  Определение максимального измеряемого тока.
  3.  Получение изображения топографии поверхности в режиме постоянного туннельного тока.

Обработка и количественный анализ СЗМ изображений

Получить практические навыки в области обработки и количественного анализа СЗМ изображений.

1. Выполнить фильтрацию изображения.

2. Измерить и сравнить параметры шероховатости изображений до и после фильтрации.

3. Построить Фурье-спектр изображения и измерить величины преобладающих пространственных частот спектра, сравнить соответствующие этим частотам периоды повторения элементов изображения с интервалами, полученными при измерениях на изображении. Определить углы между направлениями на изображении двумя способами и сравнить результаты.

Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии

Изучение основ сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
  1.  Измерение коэффициента преобразования K преобразователя ток-напряжение.
  2.  Определение максимального измеряемого тока.
  3.  Определение величины минимального тока.
  4.  Получение топографии поверхности в режиме постоянного туннельного тока.

Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме

Получение топографии поверхности и фазового контраста исследуемого образца.
  1.  Определить частоту механического резонанса датчика силового взаимодействия.
  2.  Определить добротность колебательной системы с пьезорезонансным датчиком.
  3.  Определить зависимость величины силового взаимодействия (амплитуды колебаний зонда) от расстояния зонд-образец.
  4.  Получить топографию поверхности и фазового контраста исследуемого образца.




1.  Понятие и виды причастности к преступлению
2. А 13.5 отсутствия механических включенийБ 15 запахаВ 1345 цветаГ 25 количественного содержани.html
3. Статья размещена с согласия автора
4. Маркетинговые исследования
5. тема вынесена на практические и лабораторные занятия и самостоятельную работу студентов
6. Модернизация программного механизма
7. Величины характеризующие вращательное движение
8. на тему Мотивационная готовность к школе План выступления
9. Беспозвоночные черви.html
10. Тема 1. Введение в курс дисциплины Таможенное дело.html

Материалы собраны группой SamZan и находятся в свободном доступе