У вас вопросы?
У нас ответы:) SamZan.net

до трения б ~ после трения время испытаний 1500с в ~ после трения время испытаний 5000 с

Работа добавлена на сайт samzan.net: 2015-07-10

Поможем написать учебную работу

Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.

Предоплата всего

от 25%

Подписываем

договор

Выберите тип работы:

Скидка 25% при заказе до 3.2.2025

абв

профили поверхности гальванического покрытия AuNi:  а - до трения, б – после трения, время испытаний 1500с, в – после трения, время испытаний 5000 с. (Данные А.Р. Шугуров и др.  ЖТФ2012,т.38, вып.10)

Изменение длинны дорожки трения (d) на поверхности покрытия, ее фрактальная размерность (Df) и среднеквадратичная шероховатость (Rq) от времени

Метод фрактальных сигнатур (А.А.Потапов институт радиотехники и электроники РАН, ЖТФ 2005, Т.75, вып.5)

Фрактальный анализ поверхности образца обработанного алмазным точением: а – топография поверхности, в – фрактальная сигнатура изображения образца фрактальный кепстр, с - поле и экспериментальное распределение локальных фрактальных размерностей D.

Шероховатость поверхности и поверхностный слой материала рассматривается как единая иерархическая фрактальная или мультифрактальная структура.

Фрактальный анализ кристалла Sb2Te3  легированного Se (данные Ф..К.Алескерова и др. НПО «Селен» НАН Азербайджана)

АСМ изображения поверхности кристалла в 3D масштабе: а- увеличиннное, б-уменьшенное

 

Профиль рельефа поверхности (0001) Sb2Te3<Se>: по оси x изображена область сканирования dx = 87,1нм, размеры ВНСЭ колеблются около значений 104,46 нм и 69,64нм. а                                                                                                          б

а - гистограмма размеров внутрислоевых наноструктурных элементов (ВНСЭ)

б – функция распределения нанофрагментов Se на поверхности (Фурье-образ)

Размеры ВНСЭ по оси Z колеблются в пределах 5-10нм, наибольшее число частиц (34000) имеет высоту h=8.5нм. Распределение нанофрагментов на внутрислоевой поверхности по оси Z кристалла в целом неоднородно.

Проведенная методом триангуляции оценка величины фрактальной размерности двумерной поверхности дала значение Df=1,85, что означает довольно развитую, в частности, сильно шероховатую поверхность (0001) систем V VI A B2 3 . Сильная шероховатость поверхности (0001) ведет к существенному увеличению площади ее поверхности.

Мультифрактальный анализ поверхности алмазоподобного покрытия в процессе трения проведен с помощью АСМ (О.С.Киселевский, 2000 г. Г.Гомель, Белорусский государственный университет транспорта)

АСМ изображения поверхностей АПП: а - до трения, б – после трения 6000 циклов, в – после трения 12000 циклов

АСМ анализ дорожек трения на углеродном покрытии (Гомель, Институт механики металлополимерных систем. А.М. Дубравин и др.)




1. Worked out by Erik Erikson. Erik Erikson ws born in 1902 in Germny
2. C~znne, Pul.html
3. Реферат- Основные гипотезы о возникновении жизни на Земле.html
4. Предметы выделяющиеся своей яркостью звучностью и т
5. Статья 1. Предмет регулирования настоящего Федерального закона 1
6. либо признаку одинаковому для всех марок сложно
7. Реферат- Принцип наслаждения и интимные отношения
8. Дипломная работа- Інформація і дезінформація в просторі засобів масової інформації
9. I Кіріспе ldquo;Желто~сан к~терілісіrdquo; ~ ол ~аза~ хал~ыны~ тарихында бол~ан а~та~да~тарды~ бірегейі
10. Задание 19 Предметная область ПО- Сбыт готовой продукции некоторые функции выполняемые со