Поможем написать учебную работу
Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.
Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.
ГУАП
КАФЕДРА № 35
ОТЧЕТ
ЗАЩИЩЕН С ОЦЕНКОЙ
ПРЕПОДАВАТЕЛЬ
доц., к.т.н., доц. |
Б.Г. Филатов |
|||
должность, уч. степень, звание |
подпись, дата |
инициалы, фамилия |
ОТЧЕТ О ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ |
ИССЛЕДОВАНИЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ УДЕЛЬНОГО ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНОЙ ПЛЕНКИ |
по курсу: Физико-химические основы технологии электронных средств |
РАБОТУ ВЫПОЛНИЛИ
СТУДЕНТЫ ГР. |
3958 |
М.Г. Бельский А.С. Зайцев |
|||
подпись, дата |
инициалы, фамилия |
Санкт-Петербург 2012
Цель работы: изучение процесса измерения удельного поверхностного
сопротивления резистивных пленок и оценка экспериментальных данных с позиций
проектирования резисторов заданной точности
Результаты измерений и вычислений:
I,мкА |
33 |
31 |
31 |
33 |
32,5 |
33,5 |
U,В |
1,48 |
3,2 |
3,2 |
3,15 |
3,6 |
2,7 |
34 |
30,5 |
30,5 |
31,5 |
31 |
32 |
I,мкА |
2,5 |
2,3 |
2,5 |
2,8 |
2,6 |
2,8 |
U,В |
I,мкА |
31 |
33 |
32 |
34 |
32 |
33,5 |
U,В |
2,8 |
2,7 |
3,0 |
2,6 |
2,3 |
2,8 |
33 |
31,5 |
32 |
30 |
29 |
27 |
I,мкА |
2,8 |
2,5 |
3,0 |
2,8 |
2,4 |
2,5 |
U,В |
I,мкА |
32 |
32 |
32 |
34 |
31,5 |
31 |
U,В |
2,7 |
2,6 |
2,3 |
2,8 |
2,8 |
2,6 |
31 |
31 |
30 |
29 |
31,5 |
31 |
I,мкА |
2,4 |
2,5 |
2,4 |
2,5 |
2,4 |
2,4 |
U,В |
R0,кОМ
202 |
466 |
466 |
431 |
500 |
349 |
|
332 |
341 |
370 |
402 |
379 |
396 |
R0,кОМ |
R0,кОМ |
408 |
370 |
424 |
346 |
325 |
378 |
384 |
359 |
424 |
422 |
374 |
419 |
R0,кОМ |
R0,кОМ |
381 |
367 |
325 |
372 |
402 |
379 |
350 |
365 |
362 |
390 |
344 |
350 |
R0,кОМ |
Математическое ожидание:
m[R0]=
Среднее квадратическое отклонение:
σ[R0]=116,85
Вывод: мы изучили процессы измерения удельного поверхностного
сопротивления резистивных пленок и оценили экспериментальные данные с позиций
проектирования резисторов заданной точности.