Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.
Предоплата всего
Подписываем
Интерфере́нция све́та — перераспределение интенсивности света в результате наложения нескольких световых волн. Это явление сопровождается чередующимися в пространстве максимумами и минимумами интенсивности. Её распределение называется интерференционной картиной.
Явление интерференции обусловлено волновой природой света; его количественные закономерности зависят от длины волны 0. Поэтому это явление применяется для подтверждения волновой природы света и для измерения длин волн (интерференционная спектроскопия).
Так как современные объективы содержат большое количество линз, то число отражений в них велико, а поэтому велики и потери светового потока. Таким образом, интенсивность прошедшего света ослабляется и све тосила оптического прибора уменьшается.
Для устранения указанных недостатков осуществляют так называемое просветле ние оптики. Для этого на свободные поверхности линз наносят тонкие пленки с показа телем преломления, меньшим, чем у материала линзы. При отражении света от границ раздела воздух–пленка и пленка–стекло возникает интерференция когерентных лучей 1' и 2' (рис. 253). Толщину пленки d и показатели преломления стекла nс и пленки n можно подобрать так, чтобы волны, отраженные от обеих поверхностей пленки, гасили друг друга. Для этого их амплитуды должны быть равны, а оптическая разность хода равна . Расчет показывает, что амплитуды от раженных лучей равны, если
(175.1)
Так как nс, n и показатель преломления воздуха n0 удовлетворяют условиям nс >n>n0, то потеря полуволны происходит на обеих поверхностях; следовательно, условие минимума (предполагаем, что свет падает нормально, т. е. i=0)
где nd — оптическая толщина пленки. Обычно принимают m=0, тогда
Таким образом, если выполняется условие (175.1) и оптическая толщина плевки равна 0/4, то в результате интерференции наблюдается гашение отраженных лучей.
Создание высокоотражающих покрытий стало возможным лишь на основе многолучевой интерференции. Многолучевая интерференция возникает при наложении боль шого числа когерентных световых пучков. Распределение интенсивности в интерферен ционной картине существенно различается; интерференционные максимумы значитель но уже и ярче, чем при наложении двух когерентных световых пучков. интерференция осуществляется в дифракционной решетке.
Многолучевую интерференцию можно осуществить в многослойной системе чере дующихся пленок с разными показателями преломления (но одинаковой оптической толщиной, равной 0/4), нанесенных на отражающую поверхность (рис. 254). Можно показать, что на границе раздела пленок возникает большое число отраженных интерферирующих лучей, кото рые при оптической толщине пленок 0/4 будут взаимно усиливаться, т. е. коэффициент отражения возрастает. Характерной особенностью такой высокоотражательной систе мы является то, что она действует в очень узкой спектральной области, причем чем больше коэффициент отражения, тем уже эта область. Подобные отражатели применяются в лазерной технике, а также используются для создания интерференцион ных светофильтров.
Явление интерференции также применяется в очень точных измерительных прибо рах, называемых интерферометрами. Все интерферометры основаны на одном и том же принципе и различаются лишь конструкционно. На рис. 255 представлена упрощенная схема интерферометра Майкельсона. Монохроматический свет от источника S падает под углом 45° на плоскопараллельную пластинку P1. Сторона пластинки, удаленная от S, посеребренная и полупрозрачная, разделяет луч на две части: луч 1 (отражается от посеребренного слоя) в луч 2 (проходит через него). Луч 1 отражается от зеркала M1 и, возвращаясь обратно, вновь проходит через пластинку P1 (луч 1'). Луч 2 идет к зеркалу М2, отражается от него, возвращается обратно и отражается от пластинки Р1 (луч 2'). Так как первый из лучей проходит сквозь пластинку Р1 дважды, то для компенсации возникающей разности хода на пути второго луча ставится пластинка Р2 (точно такая же, как и Р1, только не покрытая слоем серебра).
Лучи 1' и 2' когерентны; следовательно, будет наблюдаться интерференция, резуль тат которой зависит от оптической разности хода луча 1 от точки О до зеркала М1 и луча 2 от точки О до зеркала M2. При перемещении одного из зеркал на расстояние 0/4 разность хода обоих лучей увеличится на 0/2 и произойдет смена освещенности зрительного поля. Следовательно, по незначительному смещению ин терференционной картины можно судить о малом перемещении одного из зеркал и использовать интерферометр Майкельсона для точного измерения длин.
Российский физик В. П. Линник использовал это для создания, служащего для контроля чистоты обработки поверхности.
Интерферометры — очень чувствительные оптические приборы, позволяющие определять незначительные изменения показателя преломления прозрачных тел в зависимости от давления, температуры, примесей и т. д. Такие интерферометры получили название интерференционных рефрактометров. На пути ин терферирующих лучей располагаются две одинаковые кюветы длиной l, одна из которых заполнена, например, газом с известным (n0), а другая — с неизвестным (nx) показателями преломления. Возникшая между интерферирующими лучами дополни тельная оптическая разность хода =(nx—n0)l . Изменение разности хода приведет к сдвигу интерференционных полос. Этот сдвиг можно характеризовать величиной
где m0 показывает, на какую часть ширины интерференционной полосы сместилась интерференционная картина. Измеряя величину m0 при известных l, n0 и , можно вычислять nx или изменение nx–n0. Например, при смещении интерференционной картины на 1/5 полосы при l=10 см и =0,5 мкм nx–n0 = 10–6, т.е. интерференцион ные рефрактометры позволяют измерять изменение показателя преломления с очень высокой точностью.
Применение интерферометров очень многообразно. Кроме перечисленного, они применяются для изучения качества изготовления оптических деталей, измерения углов, исследования быстропротекающих процессов, происходящих в воздухе, об текающем летательные аппараты, и т. д. Применяя интерферометр, Майкельсон впер вые провел сравнение международного эталона метра с длиной стандартной световой волны. С помощью интерферометров исследовалось также распространение света в движущихся телах, что привело к фундаментальным изменениям представлений о пространстве и времени.