У вас вопросы?
У нас ответы:) SamZan.net

ЛАБОРАТОРНА РОБОТА 4

Работа добавлена на сайт samzan.net: 2016-03-13

Поможем написать учебную работу

Если у вас возникли сложности с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой - мы готовы помочь.

Предоплата всего

от 25%

Подписываем

договор

Выберите тип работы:

Скидка 25% при заказе до 6.4.2025

ЛАБОРАТОРНА РОБОТА № 4. ОТРИМАННЯ ЗОБРАЖЕННЯ ПОВЕРХНІ ЗРАЗКА У РЕЖИМІ ВІДБИТИХ ЕЛЕКТРОНІВ.

Мета роботи: Отримати топологічні зображення зразка в режимі відбитих електронів, провести аналіз отриманих зображень.

Теоретична частина: Топологію поверхні зразка можна досліджувати з допомогою відбитих електронів. У формування контрасту при дослідженні поверхні зразка будуть давати вклад наступні процеси. Загальний коефіцієнт відбивання буде монотонно зростати при збільшенні нахилу зразка. Цей ефект створює компоненту контрасту, обумовлену кількістю відбитих частинок. Кутовий розподіл відбитих електронів залежить від нахилу зразка При нормальному ( = 0) падінні розподіл має вигляд функції косинуса, при  0º розподіл набуває більш витягнуту форму в напрямі прямого розсіяння, а максимум знаходиться в площині електронного пучка і нормалі до поверхні. Напрямленість відбивання створює т. зв. траєкторну компоненту топографічного контрасту в режимі відбитих електронів. Як і в випадку вторинних електронів, на кінцевий вигляд зображення будуть впливати як процеси взаємодії електронного пучка зі зразком, так і параметри та конструктивні особливості детектора відбитих електронів.

Якщо в якості чутливого елемента вибрати детектор Еверхарта-Торілі, і подати на циліндр Фарадея від’ємний потенціал, то низькоенергетичні вторинні електрони будуть виключені з процесу формування зображення (рис.1). При цьому на контраст вихідного зображення будуть мати вплив:

  1.  Напрям розміщення детектора. Детектор розміщений “анізотропно” по відношенню до зразка, оскільки його положення є фіксоване.
  2.  Тілесний кут збору електронів. В цьому випадку він буде малий, тому реєструватися будуть тільки ті електрони, котрі були розсіяні в напрямі детектора.

Рис. 1. Реєстрація зображення у відбитих електронах з допомогою детектора Еверхарта-Торілі при подачі від’ємного потенціалу –50 В. а,б,в,г – різнонахилені площини на досліджуваному зразку. Суцільні прямі лінії показують траєкторії руху відбитих електронів, пунктирні лінії – траєкторії руху вторинних електронів.

  1.  Кут виходу детектора. Детектор розміщений під кутом, більше 50º по відношенню до електронного пучка.

Зображення, отримане в таких умовах буде мати як області, де спостерігається дуже сильний сигнал, так і області, де сигнал буде відсутній. В результаті контраст отриманого зображення буде дуже сильний. Зображення буде складатися з відносно світлих і темних ділянок, при цьому широкий діапазон градацій сірого кольору буде практично відсутній. Хоча електрони будуть відбиватися зі всіх поверхонь зразка, отримане зображення виникне в результаті детекції тих електронів, що відбилися з поверхонь, напрямлених безпосередньо до детектора.

При виборі в якості приймача відбитих електронів твердотільного детектора отримане зображення буде мати суттєво інший вигляд. Такі детектори, як правило, характеризуються великим тілесним кутом збору електронів, внаслідок чого участь у формуванні зображення будуть брати електрони відбиті зі всіх поверхонь. Контраст буде виникати за рахунок зменшення інтенсивності сигналу при збільшенні кута нахилу поверхні (рис.2).

Рис.2. Детекція відбитих електронів з допомогою великого твердотільного детектора або парного твердотільного детектора.

Крім цього, парний твердотільний детектор може працювати в режимах сумування або віднімання сигналів, що збільшує інформативності отриманого зображення.

При дослідженні топології зразка велике практичне значення має поняття глибини фокусу. Як відомо, електронний пучок, проходячи кілька етапів фокусування, при падінні на об’єкт має скінчений кут розходження. Наявність кутового розходження променя призводить до розширення пучка вище і нижче площини оптимального фокусування. Якщо ми розглядаємо зразок з нерівномірною, шорсткою поверхнею, то діаметр пучка, що бомбардує ці ділянки буде змінюватися в залежності від робочої відстані (рис. 3).

Для того, щоб розрахувати глибину фокусу, необхідно знати на якій мінімальній відстані над і під площиною фокусування відбувається таке збільшення діаметру пучка, внаслідок якого спостерігається перекривання великої кількості елементів зображення з утворенням помітного дефокусування. В першому наближенні для збільшення мінімального радіуса пучка r0 до радіуса розміру r відстань по вертикалі D/2 буде рівна

D/2  r/ (1)

де - розходження пучка (визначається як половина кута розходження конусу).

Рис.3. Схематична інтерпретація глибини фокусу зображення в скануючому електронному мікроскопі. 

Якщо взяти до уваги, що дефокусування стає помітним, коли пучок перекриває два елементи зображення розміром, наприклад, 0,1 мм на моніторі, то r визначається формулою

r = 0,1 мм / М, (2)

де М-збільшення мікроскопа. Глибина фокусу визначається як відстань у вертикальному напрямі від -D/2 до +D/2 (рис.3). Таким чином

D = 2r / = 0,2 мм /М (3)

Змінюючи радіус R кінцевої діафрагми і величину робочої віддалі V можна змінити кут розходження, що визначається співвідношенням:

= R / V. (4)

Зі виразів (3) і (4) випливає, що збільшення глибини різкості можна досягнути шляхом зменшення радіусу кінцевої діафрагми або зменшення величини лінійного збільшення. Для того, щоб розглянути окремі деталі на поверхні зразка і при цьому не втратити глибину різкості потрібно зменшити радіус кінцевої діафрагми.

Глибина фокусу при типових розмірах діафрагм (100, 200, 600 мкм) в скануючому мікроскопі для робочої віддалі 10 мм показані в таблиці 1:

Таблиця 1. Глибина фокусу (мкм) при робочій віддалі 10 мм.

Збільшення

100-мкм діафрагма

= 5*10-3рад

200-мкм діафрагма

= 10-2рад

600-мкм діафрагма

= 3*10-2рад

10х

4000

2000

670

50х

800

400

133

100х

400

200

67

500х

80

40

13

Контрольні запитання.

  1.  Що таке відбиті електрони? Які у них енергії?
  2.  Що таке глибина фокусу? Що таке глибина поля?
  3.  Яким детектором можна реєструвати відбиті електрони?
  4.  Про що свідчить контрасність зображення у вторинних електронах? Яку інформацію про зразок можна з нього отримати?
  5.  Як працює парний твердотільний детектор?
  6.  Що таке ТОРО і СОМРО режими? Як відрізнити їх на отриманих мікроскопом зображеннях?




1. Введение1
2. 1 Материальный баланс
3.  Организаторы- Ассоциация Скаутов Польских Келецкой обл
4. Реферат- Развитие школ в США
5. ТЮМЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НЕФТЕГАЗОВЫЙ УНИВЕРСИТЕТ Институт Менеджмента и бизнеса Торговоэкономичес
6. і. Адамны~ объективтiк д~ниенi тануды~ ал~аш~ы формаларыд~ниенi сезiну ж~не д~ниенi ~абылдау ~ эмоционалдыс
7. В состав индоевропейской семьи они входят вместе с европейцами
8. вариантов. ТРИЗ позволила значительно облегчить поиск сильных нетривиальных решений
9. Билеты по материаловедению
10. участницами и прежде всего таможенные пошлины