Будь умным!


У вас вопросы?
У нас ответы:) SamZan.net

Изучение дифракции света на простейших преградах и дифракционной решетке

Работа добавлена на сайт samzan.net:


Уфимский государственный авиационный технический университет

Лабораторная работа №73
по курсу общей физики.

Изучение дифракции света на простейших преградах
и дифракционной решетке.

Выполнил: студент группы ИИТ-225
Усманов К.Р.

  1.  
    Цель работы

1.1 Ознакомление с дифракцией света на простейших преградах и дифракционной решетке и теорией расчета дифракционной картины в этих случаях.

1.2 Экспериментальное определение длины волны излучения лазера с помощью дифракционной решетки.

  1.  Теоретическая часть

Положение главных максимумов в дифракционной картине одномерной решетки в случае нормального падения лучей определяется выражением:

, (2.1)

где d – постоянная решетки,

– угол дифракции,

– длина световой волны,

kцелое число, определяющее порядок дифракционного максимума.

В простейшем случае двумерной дифракционной решеткой являются скрещенные перпендикулярные решетки с периодами d1 и d2. Дифракцию на такой решетке можно рассматривать как последовательную дифракцию лучей на двух расположенных одна за другой одномерных решетках с взаимно перпендикулярным расположением штрихов. Узкий пучок монохроматического света, пройдя через первую решетку с вертикальными штрихами, должен дать совокупность максимумов вдоль горизонтальной линии. Световой пучок, соответствующий каждому максимуму, проходя через вторую решетку, распадается на новую совокупность световых пучков, дающих максимумы вдоль вертикальной линии.

Пусть свет падает на решётку нормально. Выберем направление распространения падающего луча за ось Z , а направления вдоль решёток – за оси Х и Y. Направление падающего луча зададим углами 0, 0, 0, а дифрагировавшего - углами , , (углы между направлением луча и соответствующей координатной осью).

В нашем случае , 0 = 0. Отклонение дифрагировавшего луча вдоль Х приведет к образованию минимумов и максимумов света в зависимости от угла дифракции . Используя теорию одномерной, решётки из условия главных максимумов в данном случае получаем

. (2.2)

Аналогично дифракция в направлении оси Y даёт главные максимумы в направлениях, определяемых условием

. (2.3)

Поскольку углы , , – направляющие углы в декартовой системе координат, то для них должно выполняться условие

. (2.4)

Таким образом, получим

, (2.5)

где k1, k2 – целые числа, для заданной структуры с постоянными d1 и d2.

Если задана волна длины , то можно из (2.5) определить значения углов , , , под которыми наблюдаются главные максимумы света.

При изучении дифракции света удобнее бывает измерять не углы дифракции, а расстояния между максимумами на экране и расстояние от экрана до решетки.

, (2.6)

где x – расстояние от центра экрана до точки наблюдения,

l – расстояние от экрана до решетки.

  1.  
    Экспериментальная часть
    1.  Приборы и принадлежности
  2.  Оптический квантовый генератор с блоком питания;
  3.  Оптическая скамья с экраном для наблюдения;
  4.  Мелкая сетка в держателе, используемая как двумерная дифракционная решетка.
    1.  Выполнение опыта

ky

x, м

l, м

dy

dyср, м

dy

, %

1

0,005

1

1,2656*10-4

1,2657*10-4

1,27*10-5

10,05

-1

-0,005

1,2656*10-4

1,27*10-5

10,05

2

0,01

1,2657*10-4

6,39*10-6

5,05

-2

-0,01

1,2657*10-4

6,39*10-6

5,05

3

0,015

1,2657*10-4

4,28*10-6

3,38

-3

-0,015

1,2657*10-4

4,28*10-6

3,38

, откуда

cos = sin ;

;

z = l;

;

;

 (3.1)

Расчет погрешностей:

Для расчета погрешностей воспользуемся формулой

. (3.2)

Из формулы (3.1) следует

, (3.3)

где x = l = 0,0005 м.

Для расчета относительной погрешности использовалась формула:

. (3.4)

kx

y, м

l, м

dx

dxср, м

dx

, %

1

0,005

1

1,2656*10-4

1,2657*10-4

1,27*10-5

10,05

-1

-0,005

1,2656*10-4

1,27*10-5

10,05

2

0,01

1,2657*10-4

6,39*10-6

5,05

-2

-0,01

1,2657*10-4

6,39*10-6

5,05

3

0,015

1,2657*10-4

4,28*10-6

3,38

-3

-0,015

1,2657*10-4

4,28*10-6

3,38

Согласно рассуждениям из первой части опыта, аналогично получаем:

 (3.5)

Из формул (3.2) и (3.5) получаем:

, (3.6)

где y = l = 0,0005 м.

Для расчета относительной погрешности использовалась формула:

 (3.7)

Для третьей части опыта:

z = l,

,

,

,

 (3.8)

 (3.9)

Погрешности вычисляю по формулам:

 (3.10)

 (3.11)

где x = y = z = 0,0005 м.

Относительную погрешность вычисляю по формуле, аналогичной (3.4) и (3.7).


kx

ky

x, м

y, м

l, м

dx, м

dy, м

dxcp, м

dycp, м

dx, м

x, %

dy, м

y, %

1

2

0,005

0,01

1

6,33*10-5

2,53*10-4

1,27*10-4

1,83*10-4

3,20*10-6

5,05

2,54*10-5

10,05

-1

3

-0,005

0,015

4,22*10-5

3,80*10-4

1,43*10-6

3,38

3,82*10-5

10,05

2

-3

0,01

-0,015

8,44*10-5

1,90*10-4

2,86*10-6

3,38

9,59*10-6

5,05

-3

-2

-0,015

-0,01

1,90*10-4

8,44*10-5

9,59*10-6

5,05

2,86*10-6

3,38

2

-1

0,01

0,005

2,53*10-4

6,33*10-5

2,54*10-5

10,05

3,20*10-6

5,05

3

-3

0,015

-0,015

1,27*10-4

1,27*10-5

4,28*10-6

3,38

4,28*10-6

3,38

Вывод: в результате эксперимента были получены параметры двумерной дифракционной решетки (1,27*10-4 м). Погрешность составила не более 10%.




1. Тема заняття- Державна політика у сфері зайнятості
2. і G C EМахаббат неге сонша ысты~ еді~[kzchords
3. Sized pieces becuse the Chinese culture regrds knives nd forks s wepons.html
4. обеспечение и координация информационного потока по всей логистической цепи на всех иерархических уровнях
5. Проблемы развития системы исполнительной власти в Российской Федерации
6. Основы радиоэлектроники и схемотехники
7. Строй современного английского языка
8. Счета применяемые для учета производственной себестоимости и учета расходов по элементам
9. Контрольная работа по Word Задание В папке с номером группы создать документ Word под именем Контрол
10. Лабораторна робота 9 лабораторія основ електродинаміки методичні вказівки
11. Тема 1- Я правда не еврей.html
12. Прикладное искусство Византии IVVII века
13. Шпоры по нефтедобыче
14. Венгрия Австрия США Научная сфера- экономика Место работ
15. Тема Художники и зрители
16. это совокупность методов производственных процессов и программнотехнических средств объединенных в техн
17. Дискурс стигмы и дискриминации в отношении ЛЖВ в СМИ 26 июня 2012г
18. Декларация президентов России и США и Хартия российскоамериканского партнерства и дружбы
19. предпринимательство
20. Аудит реализации продукции